薄膜蚀刻使用指导
膜
|
TRANSENE公司蚀刻剂
|
蚀刻速率
|
光刻胶
|
应用
|
Al
|
标准铝
蚀刻剂-A 蚀刻剂-D |
25℃ 40℃
30Å/秒 80Å/秒 40Å/秒 125Å/秒 |
阴性和阳性
|
半导体和集成电路
GaAs 和 GaP 装置 |
Al2O3
|
TRANSETCH - N
|
120Å/秒,180℃
|
SiO2
|
半导体装置
|
Co2Si
|
硅化钴
|
10Å/秒,25℃
|
阴性和阳性
|
微电子元件
|
Cr
|
铬蚀刻剂-473
铬蚀刻剂-TFD 铬蚀刻剂-1020 |
25℃ 4℃
14Å/秒 25Å/秒
50Å/秒 |
阴性和阳性
|
薄膜线路
|
Cr-CrO
|
铬蚀刻剂-TFD
铬蚀刻剂-1020 |
不固定
不固定
|
阴性,阳性
|
薄膜线路
|
Cr-Si
Cr-SiO |
铬陶瓷
蚀刻剂 - TFE |
1000Å/分,50℃
|
阴性
|
薄膜线路
|
Cu
|
铜蚀刻剂 100
铜蚀刻剂 200 APS 铜 100 |
1 密尔/分,50℃
0.5密尔/分,50℃ 80Å/秒,40℃ |
屏幕光刻胶
阴性和阳性 |
P.C. 板
薄膜线路 |
GaAs
|
砷化镓
|
20-100Å/秒
|
阴性
|
微电子件
|
GaN
|
氮化镓
|
80Å/分,180℃
|
阴性和阳性
|
半导体和 IC
|
Ga2O3
|
氧化镓
|
10秒@25℃
|
阴性
|
钯触点
|
GaP
|
磷化镓
|
A面(Ga):115μ/小时,80℃
B面(P):210μ/小时,80℃ |
阴性
|
光发射二级管
|
Ge
|
锗
|
250Å/秒,20℃
|
阴性和阳性
|
半导体装置
|
Au
|
金蚀刻剂 TFA
|
28Å/秒,25℃
|
阴性和阳性
|
薄膜线路
|
In2O3
|
氧化铟
|
3分,25℃
|
阴性
|
钯触点
|
InP
|
磷化铟
|
30分,25℃
|
阴性
|
钯触点
|
Fe2O3
|
氧化铁 ME-10
|
50Å/秒,25℃
|
阴性和阳性
|
微电子件
|
Mo
|
钼蚀刻剂 TFM
|
55 Å/秒,30℃
85 Å/秒,60℃ |
阴性
|
钯触点
|
Nb
|
铌
|
50Å/秒,25℃
|
阴性和阳性
|
微电子件
|
Ni-Cr
|
镍铬蚀刻剂 - TFC
镍铬蚀刻剂 - TFN |
20Å/秒,25℃
50Å/秒,40℃ |
阴性和阳性
|
薄膜线路
|
Ni
|
镍蚀刻剂 - TFB
镍蚀刻剂 - TFG |
30Å/秒,30℃
50Å/秒,40℃ |
阴性和阳性
|
薄膜线路
|
Pd
|
钯蚀刻剂 - TFP
|
110Å/秒,50℃
|
阴性和阳性
|
薄膜线路
|
Pt
|
铂蚀刻剂 1:1
|
10Å/秒,25℃
|
阳性
|
薄膜线路
|
Si
|
硅慢速蚀刻剂
硅中速蚀刻剂 |
不固定
不固定 |
KMER
PKP Ⅱ型 |
半导体装置
|
SiO2
|
HF 缓冲剂(热生长)
硅氧蚀刻剂(沉积)
|
800Å/分,25℃
2400Å/分,25℃ |
阴性和阳性
|
半导体和IC
|
SiO
|
一氧化硅蚀刻剂
|
5000Å/分,85℃
|
阴性和阳性
|
半导体装置
|
Si3N4
|
TRANSETCH - N
|
125Å/分,180℃
|
SiO2 (Silox)
|
半导体与集成线路
|
Ag
|
银蚀刻剂 - TFS
|
200Å/秒,25℃
|
阴性和阳性
|
半导体和IC
|
Ta
|
钽蚀刻剂-8607
|
70Å/秒,25℃
|
阴性和阳性
|
电容器,IC
|
Ti
|
钛蚀刻剂 - TFT
|
25Å/秒,20℃
50Å/秒,30℃ |
阴性和阳性
|
集成线路
|
Ti-W
|
钛钨蚀刻剂 TiW-30
|
20Å/秒
|
阴性和阳性
|
粘结层
|
W
|
钨蚀刻剂 TFW
|
140Å/秒,30℃
|
阴性和阳性
|
集成线路
|
SnO,ITO
|
TE-100
|
30分,25℃
|
屏幕光刻胶
|
电子线路
|